Ieee Transactions On Reliability简介
《Ieee Transactions On Reliability》是一本由IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC出版商出版的专业工程技术期刊，该刊创刊于1963年，刊期Quarterly，该刊已被国际权威数据库SCIE收录。在中科院最新升级版分区表中，该刊分区信息为大类学科：计算机科学 2区，小类学科：计算机：硬件 2区；计算机：软件工程 2区；工程：电子与电气 2区；在JCR（Journal Citation Reports）分区等级为Q1。该刊发文范围涵盖计算机：硬件等领域，旨在及时、准确、全面地报道国内外计算机：硬件工作者在该领域取得的最新研究成果、工作进展及学术动态、技术革新等，促进学术交流，鼓励学术创新。2021年影响因子为5.883，平均审稿速度约4.5个月。
JCR分区（当前数据版本：2021-2022年最新版）
| JCR分区等级 |
JCR所属学科 |
分区 |
影响因子 |
| Q1 |
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE |
Q1 |
5.883 |
| COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING |
Q1 |
| ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC |
Q1 |
期刊指数
| 影响因子 |
h-index |
Gold OA文章占比 |
研究类文章占比 |
OA开放访问 |
平均审稿速度 |
| 5.883 |
86 |
2.68% |
99.44% |
未开放 |
约4.5个月 |
