Ieee Design & Test简介
《Ieee Design & Test》是一本由IEEE Computer Society出版商出版的专业工程技术期刊，该刊创刊于2013年，刊期6 issues/year，该刊已被国际权威数据库SCIE收录。在中科院最新升级版分区表中，该刊分区信息为大类学科：工程技术 3区，小类学科：计算机：硬件 4区；工程：电子与电气 4区；在JCR（Journal Citation Reports）分区等级为Q3。该刊发文范围涵盖计算机：硬件等领域，旨在及时、准确、全面地报道国内外计算机：硬件工作者在该领域取得的最新研究成果、工作进展及学术动态、技术革新等，促进学术交流，鼓励学术创新。2021年影响因子为2.223，
JCR分区（当前数据版本：2021-2022年最新版）
| JCR分区等级 |
JCR所属学科 |
分区 |
影响因子 |
| Q3 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC |
Q3 |
2.223 |
| COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE |
Q3 |
期刊指数
| 影响因子 |
h-index |
Gold OA文章占比 |
研究类文章占比 |
OA开放访问 |
平均审稿速度 |
| 2.223 |
72 |
7.10% |
100.00% |
未开放 |
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